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  1)先行收集100个以上数据,依测定之先后顺序排列之。

  2)以2~5个数据为一组(一般采4~5个),分成约20-25组。

  3)将各组数据记入数据表栏位内。

  4)计算各组之平均值X。(取至测定值最小单位下一位数)

  5)计算各组之全距R。(最大值-最小值=R)

  6)计算总平均X。

  X=(X1+X2+X3+…+Xk)/k=Xi/k(k为组数)

  7)计算全距之平均R:

  R=(R1+R2+R3+…+Rk)/k=Ri/k

  8)计算管制界限

  X管制图:中心线(CL)=X

  管制上限(UCL)=X+A2R

  管制下限(LCL)=X-A2R

  R管制图:中心线(CL)=R

  管制上限(UCL)=D4R

  管制下限(LCL)=D3R

  A2,D3,D4之值,随每组之样本数不同而有差异,但仍遵循三个标准差之原理,计算而得,今已被整理成常用系数表。

  9)绘制中心线及管制界限,并将各点点入图中。

  10)将各数据履历及特殊原因记入,以备查考、分析、判断。

  (6)管制点之点绘制要领:

  1)各项工程名称、管制特性、测定单位、设备别、操作(测定)者、样本大小、材料别、环境变化…等任何变更资料应清楚填入,以便资料之分析整理。

  2)计量值变更管制图(X-R,X-R…等)其X管制图与R管制图的管制界限席宽度取法,一般原则以组之样本数(n)为参考,X管制图之单位分度约为R管制图之1/n倍。

  (纵轴管制界限宽度约20-30m/m;横轴各组间隔约2-5mm)

  3)中心线(CL)以实线记入,管制界限则记入虚线;各线上须依线别分别记入CL、UCL、LCL、等符号。

  4)CL、UCL、LCL之数值位数计算比测定值多两位数即可。

  (各组数据之平均计算数则取比测定值多一位数)

  5)点之绘制有[·]、[○]、[△]、[×]…等,最好由厂内统一规定。

  6)变管制图,二个管制图之绘制间隔最少距20mm以上,可行的话最好距30mm左右。

  (7)管制图之判读:

  1)管制状态之判断(制程于稳定状态)

  A多数点子集中在中心线附近。

  B少数点子落在管制界限附近。

  C点子之分布与跳动呈随机状态,无规则可循。

  D无点子超出管制界限以外。

  2)可否延长管制限界限做为后续制程管制用之研判基准:

  A连续25点以上出现在管制界限线内时(机率为93.46%)。

  B连续35点中,出现在管制界限外点子不超出1点时。

  C连续100点中,出现在管制界限外点子不超出2点时。

  制程在满足上述条件时,虽可认为制程在管制状态而不予变动管制界限,但并非点子超出管制界限外亦可接受;这此超限之点子必有异常原因,故应追究调查原因并予以消除之。

  3)检定判读原则:

  A应视每一个点子为一个分配,非单纯之点。

  B点子之动向代表制程之变化;虽无异常之原因,各点子在界限内仍会有差异存在。

  C异常之一般检定原则:(如图所示)

  (8)管制图使用之注意事项:

  1)管制图使用前,现场作业应予标准化作业完成。

  2)管制图使用前,应先决定管制项目,包括品质特性之选择与取样数量之决定。

  3)管制界限千万不可用规格值代替。

  4)管制图种类之遴选应配合管制项目之决定时搭配之。

  5)抽样方法以能取得合理样组为原则。

  6)点子超出界限或有不正常之状态,必须利用各种措施研究改善或配合统计方法,把异常原因找出,同时加以消除。

  7)X-R管制图里组的大小(n),一般采n=4-5最适合。

  8)R管制图没下限,系因R值是由同组数据之最大值减最小值而得,因之LCL取负值没有意义。

  9)制程管制做得不好,管制图形同虚设,要使管制图发挥效用,应使产品制程能力中之Cp值(制程精密度)大于1以上

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